雙面(mian)點針探針臺可(ke)(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)于(yu)晶圓和(he)PCB板(ban)測試(shi)(shi)，用(yong)(yong)于(yu)需(xu)要正面(mian)和(he)背面(mian)同時扎針，以實(shi)現各種光(guang)(guang)/電(dian)(dian)性(xing)能測試(shi)(shi)需(xu)求(qiu)。該定制探針臺具(ju)有優(you)良的機械(xie)系(xi)統，穩定的結構(gou)，符合人體(ti)工(gong)程(cheng)學，以及多項升級(ji)功能。可(ke)(ke)(ke)(ke)廣(guang)泛(fan)應用(yong)(yong)于(yu)集成電(dian)(dian)路(lu)、Wafer，LED、LCD、太陽能電(dian)(dian)。產品(pin)優(you)勢：可(ke)(ke)(ke)(ke)同時完(wan)成DC和(he)RF測試(shi)(shi)大手柄雙驅動，省時，省力，省心雙光(guang)(guang)路(lu)系(xi)統，上光(guang)(guang)路(lu)可(ke)(ke)(ke)(ke)升級(ji)加載(zai)光(guang)(guang)電(dian)(dian)流(liu)系(xi)統。芯片(pian)內(nei)部(bu)(bu)線(xian)路(lu)/pad/電(dian)(dian)級(ji)的IV/CV測試(shi)(shi)l材(cai)料/器件的IV/CV性(xing)能測試(shi)(shi)及FAl芯片(pian)/面(mian)板(ban)內(nei)部(bu)(bu)線(xian)路(lu)修改/去(qu)層(ceng)（介(jie)質(zhi)絕(jue)緣層(ceng)/鈍化(hua)層(ceng)l可(ke)(ke)(ke)(ke)對金屬(shu)線(xian)路(lu)層(ceng)激光(guang)(guang)斷線(xian)或開路(lu)進行熔接l激光(guang)(guang)可(ke)(ke)(ke)(ke)選擇性(xing)去(qu)除特定材(cai)料而不損傷下(xia)層(ceng)或基(ji)底l激光(guang)(guang)小加工(gong)精(jing)度11μml芯片(pian)研(yan)發流(liu)片(pian)驗(yan)證(zheng)+失(shi)效分(fen)析l激光(guang)(guang)打標LaserMarklLasercut、Laserweld、Laserrepaill超快短脈沖激光(guang)(guang)精(jing)細(xi)微加工(gong)修復系(xi)統探針臺廣(guang)泛(fan)應用(yong)(yong)于(yu)科研(yan)單位研(yan)發測試(shi)(shi)、院校教學操作、企業(ye)實(shi)驗(yan)室芯片(pian)失(shi)效分(fen)析等領域。CV測試(shi)(shi)探針臺系(xi)統

無(wu)論(lun)是(shi)(shi)芯片(pian)設(she)(she)(she)計的(de)(de)(de)可靠性驗(yan)證測(ce)試(shi)，或是(shi)(shi)晶(jing)圓(yuan)量(liang)產(chan)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)WAT測(ce)試(shi)和(he)CP測(ce)試(shi)，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(tai)在(zai)其(qi)中(zhong)(zhong)起著至關重要的(de)(de)(de)作用。探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(tai)設(she)(she)(she)備主要技術壁壘(lei)在(zai)系(xi)統的(de)(de)(de)精細(xi)定位、微米級運動(dong)以及高(gao)準確率通信(xin)等(deng)關鍵參數。目前全球主要探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(tai)市場仍主要被美(mei)、日、韓等(deng)國(guo)(guo)(guo)所占據。近年來在(zai)國(guo)(guo)(guo)家對半導體(ti)(ti)產(chan)業(ye)的(de)(de)(de)大(da)力扶持(chi)下(xia)，國(guo)(guo)(guo)產(chan)化(hua)技術的(de)(de)(de)發(fa)展進(jin)程(cheng)不(bu)斷加快，中(zhong)(zhong)國(guo)(guo)(guo)半導體(ti)(ti)設(she)(she)(she)備企(qi)業(ye)將加速迎(ying)來國(guo)(guo)(guo)產(chan)替代的(de)(de)(de)機(ji)會(hui)。在(zai)國(guo)(guo)(guo)內(nei)半導體(ti)(ti)設(she)(she)(she)備市場中(zhong)(zhong)，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(tai)是(shi)(shi)我國(guo)(guo)(guo)目前能實現(xian)高(gao)國(guo)(guo)(guo)產(chan)化(hua)率的(de)(de)(de)設(she)(she)(she)備。高(gao)低溫探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(tai)規格手動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(tai)的(de)(de)(de)工作原理。

探(tan)針(zhen)臺應用(yong)手動(dong)探(tan)針(zhen)臺廣泛應用(yong)于(yu)，科研單(dan)位研發(fa)(fa)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、院校(xiao)教學操作(zuo)、企(qi)業實驗室芯(xin)片(pian)失效分(fen)析(xi)等領(ling)域(yu)。一般使用(yong)于(yu)研發(fa)(fa)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)階段(duan) ，批(pi)量不(bu)是很大的(de)情況，大批(pi)量的(de)重復測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)推薦使用(yong)探(tan)卡(ka)。主要功能(neng)(neng)：搭(da)配外接測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)半(ban)導體參數(shu)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi)、示波(bo)器、網(wang)分(fen)等測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)源(yuan)表，量測(ce)(ce)(ce)(ce)半(ban)導體器件(jian)(jian)IV CV脈沖/動(dong)態IV等參數(shu)。用(yong)途：以往(wang)如果需(xu)要測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)子(zi)(zi)元器件(jian)(jian)或系統的(de)基本電(dian)性(xing)(xing)能(neng)(neng)（如電(dian)流、電(dian)壓、阻(zu)抗等）或工作(zuo)狀態，測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)人員(yuan)一般會采(cai)用(yong)表筆去點測(ce)(ce)(ce)(ce)。隨(sui)著電(dian)子(zi)(zi)技(ji)術的(de)不(bu)斷發(fa)(fa)展，對(dui)于(yu)精密微小(xiao)（納米級）的(de)微電(dian)子(zi)(zi)器件(jian)(jian)（如IC、晶圓(yuan)、芯(xin)片(pian)、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小(xiao)的(de)Connector），表筆點到被測(ce)(ce)(ce)(ce)位置就(jiu)顯得無能(neng)(neng)為力(li)了(le)。于(yu)是一種高精度探(tan)針(zhen)座應運而生,利用(yong)高精度微探(tan)針(zhen)將被測(ce)(ce)(ce)(ce)原(yuan)件(jian)(jian)的(de)內部(bu)訊號引導出(chu)來，便于(yu)其電(dian)性(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)設備（不(bu)屬于(yu)本機(ji)器）對(dui)此測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、分(fen)析(xi)。

桌(zhuo)面探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)系(xi)統之射頻(pin)(pin)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)：把傳(chuan)統探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺的(de)(de)(de)體積大、待測物規格(ge)限制(zhi)等一系(xi)列缺(que)點改進。我(wo)們把探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺的(de)(de)(de)兩(liang)個探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臂直接分離出來，使用磁(ci)吸開關(guan)固定在配重塊上，裝配我(wo)們自行研發GS/SG/GSG/GSSG和差(cha)分間距(ju)可調射頻(pin)(pin)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)，高(gao)(gao)頻(pin)(pin)率(lv)40GHz和67GHz（質量的(de)(de)(de)阻抗控制(zhi)50歐±2/100歐±2，探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)的(de)(de)(de)pitch可覆蓋150um~1250um的(de)(de)(de)范(fan)圍）放在水平的(de)(de)(de)桌(zhuo)面上進行使用、測試(shi)(shi)。可在桌(zhuo)面上任意(yi)活(huo)動，根據具體測試(shi)(shi)環境(jing)調節(jie)。各(ge)規格(ge)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)配合67GHz網絡分析儀進行高(gao)(gao)頻(pin)(pin)高(gao)(gao)速的(de)(de)(de)測試(shi)(shi)。雙面點針(zhen)(zhen)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺可用于(yu)晶圓(yuan)和PCB板測試(shi)(shi)，用于(yu)需要正面和背面同時扎針(zhen)(zhen)，以實現各(ge)種光(guang)/電(dian)性能測試(shi)(shi)需求。

探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)主(zhu)要(yao)(yao)被(bei)(bei)應用在半(ban)導(dao)(dao)體(ti)、集(ji)成電(dian)路以及(ji)封(feng)裝(zhuang)的(de)測(ce)試，主(zhu)要(yao)(yao)是保證(zheng)產品的(de)質(zhi)量(liang)，且縮短制造成本。按(an)照不同功能，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)可被(bei)(bei)分為(wei)多種類型，如LCD探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)、高/低(di)溫探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)、RF探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)。受(shou)(shou)益于半(ban)導(dao)(dao)體(ti)產業(ye)的(de)發(fa)展，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)應用需求持(chi)續(xu)攀升(sheng)，行業(ye)發(fa)展前(qian)景較好。半(ban)導(dao)(dao)體(ti)檢(jian)測(ce)是半(ban)導(dao)(dao)體(ti)生產中關鍵一環，在半(ban)導(dao)(dao)體(ti)檢(jian)測(ce)設備市場結構中，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)占比約(yue)為(wei)16%。在全球中，受(shou)(shou)益于智能手機、人工智能等(deng)產業(ye)的(de)快速發(fa)展，半(ban)導(dao)(dao)體(ti)需求攀升(sheng)，半(ban)導(dao)(dao)體(ti)測(ce)試設備市場規模(mo)也隨之增長，在2021年(nian)達到76億美元。探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)作為(wei)重(zhong)要(yao)(yao)設備，受(shou)(shou)益于半(ban)導(dao)(dao)體(ti)產業(ye)發(fa)展，市場需求持(chi)續(xu)攀升(sheng)，市場規模(mo)持(chi)續(xu)增長。探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)試臺(tai)(tai)x-y工作臺(tai)(tai)。成都探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)調試

探針臺的維(wei)護和(he)保養。CV測試探針臺系統

光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)電(dian)流測(ce)(ce)試探針(zhen)臺(tai)系統是(shi)在金相顯微鏡(jing)基礎上導(dao)(dao)入另一(yi)路光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)，用于輻照(zhao)樣(yang)品以測(ce)(ce)試樣(yang)品在特定波長及能量下的電(dian)氣特性(xing)等(deng)測(ce)(ce)試目的。l本顯微鏡(jing)設計為(wei)(wei)雙光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)路或3光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)路，其中一(yi)路為(wei)(wei)導(dao)(dao)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)通(tong)(tong)路，另一(yi)到兩路為(wei)(wei)成(cheng)像(xiang)(xiang)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)路導(dao)(dao)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)為(wei)(wei)平行的激光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)或其它線(xian)性(xing)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)，波長范圍200nm~20000nm，中間可(ke)加入多個(ge)波片(pian)過濾(lv)，起偏及偏振角(jiao)度無(wu)級360度調節。光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)斑(ban)輻照(zhao)直徑有650nm紅光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)指示。l所有模塊均(jun)可(ke)拉出設計，對(dui)導(dao)(dao)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)性(xing)質無(wu)影響(xiang)。導(dao)(dao)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)路可(ke)選(xuan)擇一(yi)個(ge)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)時(shi)間開關，精(jing)確控(kong)制導(dao)(dao)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)的輻照(zhao)時(shi)間，精(jing)度1ms，范圍2ms~∞，在控(kong)制界面上可(ke)對(dui)各(ge)種(zhong)參數(shu)進行詳細設置。成(cheng)像(xiang)(xiang)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)路為(wei)(wei)同軸照(zhao)明(ming)金相成(cheng)像(xiang)(xiang)，其中一(yi)路為(wei)(wei)1倍成(cheng)像(xiang)(xiang)，可(ke)選(xuan)擇第2路成(cheng)像(xiang)(xiang)，為(wei)(wei)物鏡(jing)的0.25~10倍率，通(tong)(tong)常在高(gao)低溫測(ce)(ce)試系統里(li)會用到，同一(yi)個(ge)物鏡(jing)不切換，得到兩個(ge)不同視(shi)野的成(cheng)像(xiang)(xiang)。CV測(ce)(ce)試探針(zhen)臺(tai)系統

上海波銘科(ke)學儀(yi)器(qi)(qi)(qi)有(you)(you)限公司成立于(yu)2013-06-03年，在此之前(qian)我們已在拉曼光(guang)譜(pu)儀(yi)，電(dian)(dian)動位移臺(tai)，激(ji)光(guang)器(qi)(qi)(qi)，光(guang)電(dian)(dian)探(tan)測器(qi)(qi)(qi)行(xing)業(ye)(ye)(ye)中有(you)(you)了多(duo)年的(de)生產(chan)和服務(wu)(wu)經(jing)(jing)驗，深(shen)受經(jing)(jing)銷商和客(ke)(ke)戶(hu)的(de)好評。我們從(cong)一個名不見經(jing)(jing)傳(chuan)的(de)小(xiao)公司，慢(man)慢(man)的(de)適應(ying)了市(shi)場的(de)需求(qiu)(qiu)，得到了越來(lai)越多(duo)的(de)客(ke)(ke)戶(hu)認可。公司業(ye)(ye)(ye)務(wu)(wu)不斷豐富，主要經(jing)(jing)營的(de)業(ye)(ye)(ye)務(wu)(wu)包括：拉曼光(guang)譜(pu)儀(yi)，電(dian)(dian)動位移臺(tai)，激(ji)光(guang)器(qi)(qi)(qi)，光(guang)電(dian)(dian)探(tan)測器(qi)(qi)(qi)等(deng)多(duo)系(xi)列產(chan)品和服務(wu)(wu)。可以(yi)根據客(ke)(ke)戶(hu)需求(qiu)(qiu)開發出(chu)多(duo)種不同功能的(de)產(chan)品，深(shen)受客(ke)(ke)戶(hu)的(de)好評。愛特(te)蒙(meng)特(te)嚴(yan)格按(an)照(zhao)行(xing)業(ye)(ye)(ye)標(biao)準(zhun)進行(xing)生產(chan)研發，產(chan)品在按(an)照(zhao)行(xing)業(ye)(ye)(ye)標(biao)準(zhun)測試完成后，通過質(zhi)檢部門檢測后推出(chu)。我們通過全新的(de)管理(li)模式(shi)和周(zhou)到的(de)服務(wu)(wu)，用心服務(wu)(wu)于(yu)客(ke)(ke)戶(hu)。愛特(te)蒙(meng)特(te)秉承著誠信(xin)服務(wu)(wu)、產(chan)品求(qiu)(qiu)新的(de)經(jing)(jing)營原則，對(dui)于(yu)員(yuan)工素質(zhi)有(you)(you)嚴(yan)格的(de)把控和要求(qiu)(qiu)，為拉曼光(guang)譜(pu)儀(yi)，電(dian)(dian)動位移臺(tai)，激(ji)光(guang)器(qi)(qi)(qi)，光(guang)電(dian)(dian)探(tan)測器(qi)(qi)(qi)行(xing)業(ye)(ye)(ye)用戶(hu)提供完善的(de)售(shou)前(qian)和售(shou)后服務(wu)(wu)。

本文來自廣西桂林百利種苗有(you)限公司：//a777a.cn/Article/84d9199824.html