在(zai)超聲(sheng)(sheng)波傳播(bo)中(zhong)(zhong)，在(zai)不同聲(sheng)(sheng)速的(de)兩種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)界(jie)面上，臨界(jie)角(jiao)實質(zhi)(zhi)是指折射(she)角(jiao)為90°時(shi)(shi)的(de)入(ru)(ru)射(she)角(jiao)（按斯涅(nie)耳(er)定律計算），這只(zhi)能在(zai)被(bei)(bei)入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)中(zhong)(zhong)的(de)聲(sheng)(sheng)速大(da)于入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)聲(sheng)(sheng)速時(shi)(shi)發生(sheng)。超過這一角(jiao)度時(shi)(shi)在(zai)被(bei)(bei)入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)中(zhong)(zhong)不會出現某種(zhong)的(de)特(te)定波形。根據斯涅(nie)耳(er)定律sinβ=（V2÷V1）sinα式中(zhong)(zhong)：α為入(ru)(ru)射(she)角(jiao)β為折射(she)角(jiao)V2為被(bei)(bei)入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)聲(sheng)(sheng)速V1為入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)聲(sheng)(sheng)速如入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)是水，被(bei)(bei)入(ru)(ru)射(she)介(jie)質(zhi)(zhi)是鋼，根據斯涅(nie)爾定律存在(zai)兩個臨界(jie)角(jiao)，sinα=sinβ÷(V2÷V1)=V1÷V2臨界(jie)角(jiao)：α=arcsin[sin90°÷(5900m/s÷1483m/s)]=14.5°第二臨界(jie)角(jiao)：α=arcsin[sin90°÷(3230m/s÷1483m/s)]=27.3°超聲(sheng)(sheng)波數字檢測儀設備(bei)可以進行多種(zhong)語言(yan)的(de)切(qie)換，適應不同地區的(de)使(shi)用需(xu)求。南通(tong)檢測儀使(shi)用教程(cheng)

探傷儀

概述：帶延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)，通過在探(tan)頭(tou)下方加(jia)裝延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)時(shi)塊(kuai)，以提供不同的(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)功(gong)能(neng)和(he)(he)選項(xiang)(xiang)。延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)時(shi)塊(kuai)根據需求設計，有(you)可(ke)拆卸延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)、表(biao)面保護膜和(he)(he)橡(xiang)膠(jiao)延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)時(shi)塊(kuai)等(deng)(deng)選項(xiang)(xiang)。帶延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)探(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)主要功(gong)能(neng)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)探(tan)頭(tou)晶片(pian)與工件(jian)(jian)(jian)表(biao)面之(zhi)間的(de)(de)(de)時(shi)間延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)遲(chi)(chi)，這樣能(neng)夠提高(gao)表(biao)面分(fen)辨率。帶延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)探(tan)頭(tou)設計用(yong)(yong)(yong)于(yu)高(gao)精度(du)(du)厚(hou)度(du)(du)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量，超(chao)(chao)(chao)(chao)薄工件(jian)(jian)(jian)等(deng)(deng)應用(yong)(yong)(yong)材料(liao)和(he)(he)復合材料(liao)的(de)(de)(de)分(fen)層檢(jian)測(ce)(ce)(ce)。使用(yong)(yong)(yong)耐高(gao)溫(wen)材料(liao)的(de)(de)(de)延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)時(shi)塊(kuai)還可(ke)以制作成用(yong)(yong)(yong)于(yu)高(gao)溫(wen)材料(liao)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)(de)高(gao)溫(wen)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)。應用(yong)(yong)(yong)：帶延(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)探(tan)頭(tou)常用(yong)(yong)(yong)于(yu)超(chao)(chao)(chao)(chao)薄工件(jian)(jian)(jian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)和(he)(he)高(gao)精度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)，因此，常采用(yong)(yong)(yong)10MHz/15MHz/20MHz等(deng)(deng)高(gao)頻(pin)率，超(chao)(chao)(chao)(chao)高(gao)頻(pin)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)需具(ju)備窄(zhai)脈沖寬頻(pin)的(de)(de)(de)特性(xing)，在薄板金(jin)屬構(gou)件(jian)(jian)(jian)或焊(han)接(jie)接(jie)頭(tou)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)中具(ju)有(you)較(jiao)高(gao)的(de)(de)(de)精度(du)(du)和(he)(he)實(shi)用(yong)(yong)(yong)性(xing)。浙江(jiang)工業無損探(tan)傷(shang)儀(yi)HUT-3X0系列(lie)手持數字超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)探(tan)傷(shang)時(shi)缺陷(xian)長度(du)(du)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)定方法。

CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)是(shi)我(wo)國承壓(ya)設備無損檢測(ce)(ce)標準(zhun)(zhun)JB/T4730—2005中規定(ding)(ding)(ding)的(de)(de)(de)標準(zhun)(zhun)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，是(shi)在IIW試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)基(ji)礎上改(gai)進后得(de)到的(de)(de)(de)，其結(jie)構及主要尺寸(cun)如(ru)圖4—30所示。CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)有三點改(gai)進:1)將直孔(kong)φ50mm改(gai)進φ50mm、φ44mm、φ40mm臺階孔(kong)，以(yi)便(bian)(bian)于(yu)(yu)測(ce)(ce)定(ding)(ding)(ding)橫(heng)波(bo)斜探頭的(de)(de)(de)分辨(bian)力。2)將R100改(gai)為R100、R50階梯(ti)圓弧，以(yi)便(bian)(bian)于(yu)(yu)調(diao)整橫(heng)波(bo)掃描速度和檢測(ce)(ce)范圍(wei)。3)將試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)上標定(ding)(ding)(ding)的(de)(de)(de)折(zhe)射角改(gai)為K值(zhi)(K=tanβs)，從而(er)可直接測(ce)(ce)出(chu)橫(heng)波(bo)斜探頭的(de)(de)(de)K值(zhi)。CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)其他功能同IIW試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai),材(cai)質一(yi)(yi)(yi)般(ban)同被(bei)檢工(gong)件。(4)CSK-IA,CSK一(yi)(yi)(yi)IA和CSK一(yi)(yi)(yi)ⅣA標準(zhun)(zhun)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)是(shi)JB/T4730—2005標準(zhun)(zhun)中規定(ding)(ding)(ding)采用(yong)的(de)(de)(de)焊縫(feng)超聲波(bo)檢測(ce)(ce)用(yong)的(de)(de)(de)橫(heng)孔(kong)標準(zhun)(zhun)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)。CSK-IA結(jie)我(wo)國的(de)(de)(de)CSK系列標準(zhun)(zhun)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)比較特(te)殊(shu)，要求試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)材(cai)質與工(gong)件相同或(huo)相近。CSK-IA,CSK一(yi)(yi)(yi)IA,CSK-ⅣA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)主要用(yong)于(yu)(yu)測(ce)(ce)定(ding)(ding)(ding)橫(heng)波(bo)距離一(yi)(yi)(yi)波(bo)幅曲線(xian)、斜探頭的(de)(de)(de)K值(zhi)和調(diao)整橫(heng)波(bo)掃描速度和靈敏度等。其中CSK-IA和CSK-A適用(yong)于(yu)(yu)壁(bi)厚范圍(wei)為8~120mm的(de)(de)(de)焊縫(feng)，CSK-ⅣA系列試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)用(yong)于(yu)(yu)壁(bi)厚范圍(wei)120～400mm的(de)(de)(de)焊縫(feng)。

方(fang)法(fa)(fa)一(yi)(yi)(yi)：橫(heng)波(bo)(bo)探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)對焊(han)縫進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)檢(jian)測(ce)時(shi)(shi)，需(xu)要在(zai)(zai)焊(han)縫兩側進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)探(tan)傷(shang)，找(zhao)到底端(duan)反射波(bo)(bo)B，移動(dong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)頭找(zhao)到頂(ding)端(duan)反射波(bo)(bo)T，出(chu)現在(zai)(zai)B和T波(bo)(bo)之間的(de)(de)異常回波(bo)(bo)（F）即為缺(que)陷(xian)波(bo)(bo)，由于超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)檢(jian)測(ce)時(shi)(shi)采用(yong)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)多次反射法(fa)(fa)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)探(tan)傷(shang)，可(ke)選擇具(ju)有半跨距顯(xian)示功(gong)能(neng)的(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，通過輸入檢(jian)測(ce)板厚度值，從而在(zai)(zai)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)波(bo)(bo)形顯(xian)示區域可(ke)更直觀(guan)的(de)(de)顯(xian)示出(chu)檢(jian)測(ce)缺(que)陷(xian)的(de)(de)具(ju)體信息。方(fang)法(fa)(fa)二：超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)穿(chuan)透法(fa)(fa)如果焊(han)接(jie)(jie)后表(biao)面平(ping)整，也(ye)可(ke)采用(yong)縱波(bo)(bo)法(fa)(fa)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)探(tan)傷(shang)，如果焊(han)縫中存在(zai)(zai)一(yi)(yi)(yi)定(ding)尺寸的(de)(de)氣孔或者夾雜缺(que)陷(xian)，收到的(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)波(bo)(bo)幅遠遠小于沒有缺(que)陷(xian)時(shi)(shi)，當缺(que)陷(xian)達到一(yi)(yi)(yi)定(ding)尺寸后，接(jie)(jie)收探(tan)頭無法(fa)(fa)接(jie)(jie)收到超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)數字檢(jian)測(ce)儀(yi)(yi)可(ke)以進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)多種數據(ju)處(chu)理方(fang)式(shi)的(de)(de)選擇，提高數據(ju)分析能(neng)力。

試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)類(lei)超(chao)聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)用(yong)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)通(tong)常(chang)分(fen)(fen)為標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)、對(dui)比試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)和(he)模(mo)(mo)(mo)擬(ni)(ni)(ni)(ni)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)三大類(lei)。(1)標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)通(tong)常(chang)是(shi)(shi)由機(ji)構制定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，其特(te)(te)性與(yu)制作要(yao)(yao)(yao)求(qiu)有專門的(de)(de)(de)(de)標(biao)(biao)準(zhun)規(gui)定(ding)(ding)。標(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)通(tong)常(chang)具有規(gui)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)材質、形(xing)狀、尺寸及(ji)表面(mian)狀態。如IIW試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai),CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）對(dui)比試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)對(dui)比試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)是(shi)(shi)以(yi)(yi)(yi)(yi)特(te)(te)定(ding)(ding)方(fang)法檢(jian)(jian)測(ce)(ce)特(te)(te)定(ding)(ding)工(gong)件(jian)(jian)(jian)(jian)時采用(yong)的(de)(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，含(han)有意(yi)義(yi)明確的(de)(de)(de)(de)人工(gong)反射體（平底孔、槽等)。它與(yu)被檢(jian)(jian)工(gong)件(jian)(jian)(jian)(jian)材料聲學特(te)(te)性相(xiang)似，其外形(xing)尺寸應能(neng)被檢(jian)(jian)工(gong)件(jian)(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)特(te)(te)征(zheng)，試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)厚度應與(yu)被檢(jian)(jian)工(gong)件(jian)(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)厚度相(xiang)對(dui)應。對(dui)比試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)主要(yao)(yao)(yao)用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)校準(zhun)以(yi)(yi)(yi)(yi)及(ji)評(ping)估缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)當量尺寸，以(yi)(yi)(yi)(yi)及(ji)將所(suo)檢(jian)(jian)出的(de)(de)(de)(de)不連續(xu)信號(hao)(hao)與(yu)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)中已(yi)知反射體產生(sheng)的(de)(de)(de)(de)信號(hao)(hao)相(xiang)比較。(3）模(mo)(mo)(mo)擬(ni)(ni)(ni)(ni)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)模(mo)(mo)(mo)擬(ni)(ni)(ni)(ni)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)是(shi)(shi)含(han)模(mo)(mo)(mo)擬(ni)(ni)(ni)(ni)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，可以(yi)(yi)(yi)(yi)是(shi)(shi)模(mo)(mo)(mo)擬(ni)(ni)(ni)(ni)工(gong)件(jian)(jian)(jian)(jian)中實際缺(que)陷(xian)而(er)制作的(de)(de)(de)(de)樣件(jian)(jian)(jian)(jian)，或(huo)者是(shi)(shi)在以(yi)(yi)(yi)(yi)往檢(jian)(jian)測(ce)(ce)中所(suo)發(fa)現含(han)自然缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)樣件(jian)(jian)(jian)(jian)。模(mo)(mo)(mo)擬(ni)(ni)(ni)(ni)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)主要(yao)(yao)(yao)用(yong)于(yu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方(fang)法的(de)(de)(de)(de)研究、無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)人員資格考核和(he)評(ping)定(ding)(ding)、評(ping)價(jia)和(he)驗證儀(yi)器探(tan)頭系(xi)統的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)能(neng)力和(he)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)工(gong)藝等。手持數字(zi)超(chao)聲波探(tan)傷(shang)儀(yi)校準(zhun)方(fang)法、校準(zhun)視頻!浙江(jiang)數字(zi)超(chao)聲波探(tan)傷(shang)儀(yi)用(yong)途

HUT-3X0系列手持(chi)數字超(chao)(chao)聲(sheng)波探傷儀壓力(li)容器(qi)行業超(chao)(chao)聲(sheng)波檢測解(jie)決方案。南通檢測儀使用教程

渾身是(shi)寶的(de)(de)(de)CSK-IA超聲(sheng)波試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)是(shi)超聲(sheng)波檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)較(jiao)常用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)之(zhi)一(yi)，標(biao)準(zhun)(zhun)中對(dui)于(yu)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)定(ding)義分(fen)為標(biao)準(zhun)(zhun)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)、對(dui)比試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)，其中CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)穩居標(biao)準(zhun)(zhun)試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)行列已有15年之(zhi)久。針對(dui)CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)各部分(fen)功能進(jin)行描述（1）采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)R=50mm，R=100mm弧(hu)(hu)，可(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)聲(sheng)速(su)、探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)入射點（前沿(yan)、探(tan)(tan)頭(tou)(tou)延遲），如果只采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)單弧(hu)(hu)（50mm或100mm）可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)入射點，聲(sheng)速(su)可(ke)(ke)以手動(dong)輸入。建(jian)議可(ke)(ke)采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)單弧(hu)(hu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)聲(sheng)速(su)為CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)聲(sheng)速(su)！（2）可(ke)(ke)采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)三(san)個不同深度的(de)(de)(de)臺(tai)階底(di)(di)面（85mm、91mm、100mm）用(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)直探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)分(fen)辨力，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)果可(ke)(ke)做(zuo)參(can)(can)考NB/T47013要(yao)求(qiu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法(fa)參(can)(can)考JB/T9214。(3)可(ke)(ke)采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)40mm、44mm、50mm三(san)個階梯孔(kong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)斜探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)分(fen)辨力，此處測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)果可(ke)(ke)做(zuo)參(can)(can)考，NB/T47013要(yao)求(qiu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法(fa)參(can)(can)考JB/T9214。另外可(ke)(ke)采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)50mm圓孔(kong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)斜探(tan)(tan)頭(tou)(tou)K值，K2、K2.5、K3探(tan)(tan)頭(tou)(tou)布(bu)(bu)置(zhi)在上表(biao)面，K1、K1.5探(tan)(tan)頭(tou)(tou)布(bu)(bu)置(zhi)在下表(biao)面。采(cai)(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)50mm圓孔(kong)還可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)直探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)盲區(qu)，探(tan)(tan)頭(tou)(tou)位置(zhi)分(fen)別布(bu)(bu)置(zhi)在試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)上表(biao)面及側面，此處測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)果也(ye)作(zuo)為參(can)(can)考，具體方法(fa)應參(can)(can)照(zhao)(zhao)JB/T9214。（4）φ1.5mm橫孔(kong)可(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)斜探(tan)(tan)頭(tou)(tou)K值。（5）將CSK-IA試(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)平置(zhi)，可(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)(yong)25mm大(da)(da)平底(di)(di)、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)水平線性、垂(chui)直線性，垂(chui)直線性測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)果可(ke)(ke)作(zuo)參(can)(can)考，具體方法(fa)參(can)(can)照(zhao)(zhao)JB/T9214。另外可(ke)(ke)用(yong)(yong)(yong)(yong)大(da)(da)平底(di)(di)校準(zhun)(zhun)直探(tan)(tan)頭(tou)(tou)！南通檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)儀使(shi)用(yong)(yong)(yong)(yong)教程

南通繪環電子科技(ji)有限公(gong)司(si)(si)目前已(yi)成(cheng)(cheng)為一家集產(chan)(chan)(chan)品研發、生產(chan)(chan)(chan)、銷售相結(jie)(jie)合的(de)(de)(de)(de)(de)其他型企業。公(gong)司(si)(si)成(cheng)(cheng)立于2014-11-19，自成(cheng)(cheng)立以(yi)來一直(zhi)秉承自我研發與技(ji)術引進相結(jie)(jie)合的(de)(de)(de)(de)(de)科技(ji)發展(zhan)戰略。公(gong)司(si)(si)主要經營超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，便(bian)(bian)攜式超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，焊縫檢測(ce)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)等，我們(men)始終堅持以(yi)可靠的(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)品質量，良好的(de)(de)(de)(de)(de)服(fu)務(wu)理(li)念，優惠(hui)的(de)(de)(de)(de)(de)服(fu)務(wu)價格誠信和讓利于客戶，堅持用自己(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)服(fu)務(wu)去打動客戶。依托成(cheng)(cheng)熟(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)品資源(yuan)和渠(qu)道資源(yuan)，向(xiang)全國生產(chan)(chan)(chan)、銷售超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，便(bian)(bian)攜式超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，焊縫檢測(ce)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)產(chan)(chan)(chan)品，經過(guo)多年(nian)的(de)(de)(de)(de)(de)沉淀和發展(zhan)已(yi)經形成(cheng)(cheng)了科學的(de)(de)(de)(de)(de)管理(li)制度、豐富的(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)品類型。我們(men)本(ben)著客戶滿意(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)原(yuan)則為客戶提(ti)供超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，便(bian)(bian)攜式超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，焊縫檢測(ce)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)，超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)產(chan)(chan)(chan)品售前服(fu)務(wu)，為客戶提(ti)供周(zhou)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)售后服(fu)務(wu)。價格低(di)廉優惠(hui)，服(fu)務(wu)周(zhou)到(dao)，歡(huan)迎您的(de)(de)(de)(de)(de)來電！

本(ben)文(wen)來(lai)自廣(guang)西桂(gui)林百利(li)種苗有限公司：//a777a.cn/Article/64d0799928.html