金(jin)相學(xue)(xue)主(zhu)要指借助光(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)(金(jin)相)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)和(he)(he)(he)體(ti)視顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)等(deng)(deng)對(dui)材料(liao)顯(xian)微(wei)組織(zhi)、低倍組織(zhi)和(he)(he)(he)斷(duan)口組織(zhi)等(deng)(deng)進行分(fen)(fen)(fen)析研究和(he)(he)(he)表(biao)征(zheng)的(de)(de)(de)(de)材料(liao)學(xue)(xue)科分(fen)(fen)(fen)支，既包含材料(liao)顯(xian)微(wei)組織(zhi)的(de)(de)(de)(de)成(cheng)(cheng)像及其(qi)定性、定量(liang)表(biao)征(zheng)，亦包含必要的(de)(de)(de)(de)樣品(pin)制備(bei)、準(zhun)備(bei)和(he)(he)(he)取樣方法。其(qi)主(zhu)要反映和(he)(he)(he)表(biao)征(zheng)構成(cheng)(cheng)材料(liao)的(de)(de)(de)(de)相和(he)(he)(he)組織(zhi)組成(cheng)(cheng)物、晶(jing)粒(亦包括可能存在的(de)(de)(de)(de)亞晶(jing))、非金(jin)屬(shu)夾雜物乃至某些晶(jing)體(ti)缺(que)陷(例如位錯)的(de)(de)(de)(de)數量(liang)、形(xing)貌、大小、分(fen)(fen)(fen)布(bu)、取向、空間排布(bu)狀態(tai)等(deng)(deng)。其(qi)主(zhu)要由(you)光(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)(xi)統、照明系(xi)(xi)(xi)統和(he)(he)(he)機(ji)械系(xi)(xi)(xi)統三部分(fen)(fen)(fen)組成(cheng)(cheng)，其(qi)中(zhong)由(you)光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)、反光(guang)(guang)(guang)鏡(jing)(jing)(jing)、物鏡(jing)(jing)(jing)組、目鏡(jing)(jing)(jing)和(he)(he)(he)多(duo)(duo)組聚光(guang)(guang)(guang)鏡(jing)(jing)(jing)組組成(cheng)(cheng)光(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)(xi)統;底座上低壓(ya)燈(deng)(deng)泡(為(wei)提高(gao)光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)可靠性現(xian)多(duo)(duo)用冷光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)即LED燈(deng)(deng))，反光(guang)(guang)(guang)鏡(jing)(jing)(jing)、孔(kong)徑光(guang)(guang)(guang)欄、視場光(guang)(guang)(guang)欄和(he)(he)(he)聚光(guang)(guang)(guang)鏡(jing)(jing)(jing)組成(cheng)(cheng)照明系(xi)(xi)(xi)統;試(shi)樣臺、物鏡(jing)(jing)(jing)轉換器(qi)、接目鏡(jing)(jing)(jing)、粗調和(he)(he)(he)微(wei)調手(shou)輪、視場光(guang)(guang)(guang)欄和(he)(he)(he)孔(kong)徑光(guang)(guang)(guang)欄構成(cheng)(cheng)機(ji)械系(xi)(xi)(xi)統。新型的(de)(de)(de)(de)金(jin)相顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)還(huan)具備(bei)瞬(shun)時(shi)高(gao)清抓(zhua)拍和(he)(he)(he)圖像處理功(gong)能，金(jin)相顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)跟(gen)一般顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)成(cheng)(cheng)像的(de)(de)(de)(de)原理是(shi)大致相同。體(ti)視顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)的(de)(de)(de)(de)廣(guang)泛應用；金(jin)像顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)加(jia)裝

典型的(de)(de)(de)共焦顯(xian)微鏡裝置是在(zai)被(bei)(bei)測(ce)(ce)對象焦平(ping)面(mian)的(de)(de)(de)共軛(e)面(mian)上放置兩(liang)個小孔，其(qi)中(zhong)一個放在(zai)光(guang)源(yuan)前面(mian)，另一個放在(zai)探(tan)測(ce)(ce)器前面(mian)，如圖(tu)1所示。由(you)圖(tu)可(ke)知，當(dang)被(bei)(bei)測(ce)(ce)樣(yang)品處(chu)于準(zhun)焦平(ping)面(mian)時，探(tan)測(ce)(ce)端收集到的(de)(de)(de)光(guang)強比(bi)較大；當(dang)被(bei)(bei)測(ce)(ce)樣(yang)品處(chu)于離焦位置時，探(tan)測(ce)(ce)端的(de)(de)(de)光(guang)斑發(fa)生(sheng)彌(mi)散，光(guang)強迅速減小。因此，只有(you)焦平(ping)面(mian)上的(de)(de)(de)點所發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)光(guang)才能透過(guo)(guo)出(chu)射針（zhen）孔，而焦平(ping)面(mian)以外的(de)(de)(de)點所發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)光(guang)線在(zai)出(chu)射針（zhen）孔平(ping)面(mian)是離焦的(de)(de)(de)，絕大部分無法通過(guo)(guo)中(zhong)心的(de)(de)(de)針（zhen）孔。因此，焦平(ping)面(mian)上的(de)(de)(de)觀察目(mu)標(biao)點呈(cheng)現亮(liang)色，而非觀察點則作(zuo)為背景呈(cheng)現黑色，反差增加，圖(tu)像清晰。在(zai)成像過(guo)(guo)程中(zhong)，兩(liang)針（zhen）孔共焦，共焦點為被(bei)(bei)探(tan)測(ce)(ce)點，被(bei)(bei)探(tan)測(ce)(ce)點所在(zai)的(de)(de)(de)平(ping)面(mian)為共焦平(ping)面(mian)。金像顯(xian)微鏡加裝正(zheng)確(que)使用金相(xiang)顯(xian)微鏡的(de)(de)(de)方(fang)法；

透射電(dian)子(zi)(zi)(zi)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)、掃描電(dian)子(zi)(zi)(zi)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)、掃描隧道顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)和(he)(he)原子(zi)(zi)(zi)力顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)是(shi)各個(ge)(ge)(ge)高科技領域經常運(yun)用(yong)的四種顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)。英(ying)文名(ming)分別是(shi)Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和(he)(he)Atomic Force Microscope(AFM)。從名(ming)字中(zhong)很(hen)容易(yi)知道四個(ge)(ge)(ge)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)的特點，其(qi)中(zhong)TEM和(he)(he)SEM用(yong)的是(shi)電(dian)子(zi)(zi)(zi)來(lai)替(ti)代光(guang)，從而確(que)定觀測樣品結構，而STM和(he)(he)AFM其(qi)實(shi)用(yong)的都是(shi)探(tan)針(zhen)。所以(yi)可以(yi)認為(wei)亞顯(xian)(xian)微(wei)(wei)級顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)（這個(ge)(ge)(ge)名(ming)字主要是(shi)區別開光(guang)學(xue)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)，用(yong)來(lai)說明其(qi)分辨率(lv)遠高于(yu)用(yong)可見(jian)光(guang)觀測）可以(yi)分為(wei)兩大(da)類(lei)，即電(dian)子(zi)(zi)(zi)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)類(lei)別和(he)(he)探(tan)針(zhen)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)類(lei)別。

掃描(miao)透射電子(zi)顯微鏡(jing) (STEM) 基本原理

場(chang)(chang)(chang)發(fa)射電(dian)(dian)子(zi)(zi)槍激(ji)發(fa)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)(zi)束(shu)(shu)經過復雜的(de)(de)(de)聚(ju)光(guang)(guang)系統后(hou)被(bei)匯(hui)聚(ju)成為原(yuan)子(zi)(zi)尺(chi)度(du)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)(zi)束(shu)(shu)斑(ban)，作為高度(du)聚(ju)焦(jiao)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)(zi)探針，在掃描(miao)線圈(quan)的(de)(de)(de)控(kong)制下(xia)對(dui)樣(yang)品進行逐點(dian)光(guang)(guang)柵掃描(miao)。STEM成像不(bu)同(tong)(tong)于(yu)平行電(dian)(dian)子(zi)(zi)束(shu)(shu)的(de)(de)(de)TEM，其利用(yong)聚(ju)集的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)(zi)束(shu)(shu)在樣(yang)品上(shang)掃描(miao)。與SEM不(bu)同(tong)(tong)之處(chu)在于(yu)探測器(qi)置(zhi)于(yu)試樣(yang)下(xia)方，探測器(qi)接(jie)收透射電(dian)(dian)子(zi)(zi)束(shu)(shu)流(liu)或彈(dan)性(xing)散射電(dian)(dian)子(zi)(zi)束(shu)(shu)流(liu)，經放大后(hou)在熒光(guang)(guang)屏(ping)上(shang)顯示出明(ming)(ming)場(chang)(chang)(chang)像和暗場(chang)(chang)(chang)像。各種成像模式(shi)收集散射信(xin)號的(de)(de)(de)接(jie)收角(jiao)度(du)不(bu)同(tong)(tong)，因此(ci)可獲取同(tong)(tong)一位置(zhi)的(de)(de)(de)不(bu)同(tong)(tong)圖(tu)像，從而反應(ying)材料(liao)的(de)(de)(de)不(bu)同(tong)(tong)信(xin)息，有環(huan)(huan)形明(ming)(ming)場(chang)(chang)(chang)像（ABF）、環(huan)(huan)形暗場(chang)(chang)(chang)像（ADF）、高角(jiao)環(huan)(huan)形暗場(chang)(chang)(chang)像（HAADF）。激(ji)光(guang)(guang)共焦(jiao)掃描(miao)顯微鏡是點(dian)成像。

共(gong)聚(ju)焦(jiao)顯微(wei)鏡(jing)是(shi)由顯微(wei)鏡(jing)光(guang)(guang)(guang)(guang)學系統(tong)、激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)(guang)源、掃(sao)描器及(ji)檢(jian)測及(ji)處理(li)系統(tong)4部分(fen)組成(cheng)，采用相干性較好的(de)(de)(de)激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)作為(wei)(wei)光(guang)(guang)(guang)(guang)源，在傳統(tong)光(guang)(guang)(guang)(guang)學顯微(wei)鏡(jing)基礎上采用共(gong)軛(e)聚(ju)焦(jiao)原(yuan)理(li)和裝置(zhi)，并利用計算機對圖象進行(xing)(xing)處理(li)的(de)(de)(de)一套觀察(cha)、分(fen)析和輸出(chu)系統(tong)。激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)掃(sao)描束通過光(guang)(guang)(guang)(guang)柵針（zhen）孔(kong)形成(cheng)點光(guang)(guang)(guang)(guang)源，經(jing)過分(fen)光(guang)(guang)(guang)(guang)鏡(jing)反(fan)射至物鏡(jing)，聚(ju)焦(jiao)在在標本上并進行(xing)(xing)掃(sao)描。樣品(pin)受到(dao)激(ji)發(fa)后，發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)回到(dao)分(fen)光(guang)(guang)(guang)(guang)鏡(jing)聚(ju)集(ji)到(dao)探測針（zhen）孔(kong)，之后經(jing)過光(guang)(guang)(guang)(guang)電倍增管轉(zhuan)化為(wei)(wei)電信號傳輸到(dao)計算機上顯示為(wei)(wei)清晰的(de)(de)(de)焦(jiao)平面圖像。激(ji)發(fa)光(guang)(guang)(guang)(guang)通過光(guang)(guang)(guang)(guang)柵針（zhen）孔(kong)聚(ju)焦(jiao)在樣品(pin)上，熒(ying)光(guang)(guang)(guang)(guang)通過物鏡(jing)聚(ju)焦(jiao)在針（zhen）孔(kong)上，此過程中形成(cheng)兩次聚(ju)焦(jiao)，故(gu)被(bei)稱為(wei)(wei)共(gong)聚(ju)焦(jiao)顯微(wei)鏡(jing)。

主要應用(yong)于：生物學領(ling)域、高分子化學領(ling)域、表面粗糙度領(ling)域。掃描(miao)隧道顯(xian)微鏡(jing)(STM)和原子力(li)顯(xian)微鏡(jing)(AFM)是(shi)比較常用(yong)的(de)兩類掃描(miao)探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)。雙光路(lu)顯(xian)微鏡(jing)供(gong)應

顯(xian)微(wei)鏡的幾種(zhong)觀(guan)察方式；金(jin)像顯(xian)微(wei)鏡加裝

體(ti)視顯(xian)微鏡和光學顯(xian)微鏡的(de)區別

體(ti)視(shi)(shi)顯微(wei)(wei)鏡(jing)是(shi)利用(yong)(yong)雙通道光(guang)路，為左右兩眼(yan)提供(gong)一個(ge)具有(you)立體(ti)感(gan)的(de)圖像(xiang)。它實質上是(shi)兩個(ge)單鏡(jing)筒顯微(wei)(wei)鏡(jing)并列放置；光(guang)學(xue)顯微(wei)(wei)鏡(jing)是(shi)利用(yong)(yong)光(guang)學(xue)原理，把人眼(yan)所(suo)不能分辨的(de)微(wei)(wei)小物體(ti)放大成(cheng)像(xiang)，以供(gong)人們(men)提取微(wei)(wei)細(xi)結構(gou)信(xin)息的(de)光(guang)學(xue)儀器。體(ti)視(shi)(shi)顯微(wei)(wei)鏡(jing)其(qi)光(guang)學(xue)結構(gou)與(yu)普(pu)通光(guang)學(xue)顯微(wei)(wei)鏡(jing)不同(tong)，體(ti)視(shi)(shi)顯微(wei)(wei)鏡(jing)的(de)成(cheng)像(xiang)具有(you)三維立體(ti)感(gan)的(de)；而(er)普(pu)通光(guang)學(xue)顯微(wei)(wei)鏡(jing)的(de)成(cheng)像(xiang)不具有(you)三維立體(ti)感(gan)。體(ti)視(shi)(shi)顯微(wei)(wei)鏡(jing)被廣泛應用(yong)(yong)在工(gong)業(ye)上更(geng)重(zhong)要(yao)的(de)特(te)點是(shi)因(yin)為其(qi)立體(ti)感(gan)強，成(cheng)像(xiang)清晰和寬闊，又(you)具有(you)長工(gong)作距離，并是(shi)適用(yong)(yong)范圍非常(chang)廣的(de)常(chang)規顯微(wei)(wei)鏡(jing)，操作方便，直觀，檢定效率高；光(guang)學(xue)顯微(wei)(wei)鏡(jing)在地質學(xue)等理工(gong)科專業(ye)中有(you)重(zhong)要(yao)應用(yong)(yong)。金像(xiang)顯微(wei)(wei)鏡(jing)加裝(zhuang)

上海波銘(ming)科(ke)學儀(yi)器(qi)(qi)(qi)有限公(gong)司成立于(yu)(yu)2013-06-03年，在(zai)此(ci)之前(qian)我們已在(zai)拉(la)曼(man)光(guang)(guang)譜儀(yi)，電(dian)(dian)動位(wei)移(yi)臺(tai)，激光(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)，光(guang)(guang)電(dian)(dian)探測(ce)器(qi)(qi)(qi)行(xing)業(ye)(ye)中有了(le)多(duo)(duo)(duo)年的生(sheng)產(chan)(chan)和(he)(he)(he)服(fu)(fu)務(wu)(wu)經驗，深(shen)受經銷商和(he)(he)(he)客(ke)戶(hu)的好評。我們從一個名不(bu)(bu)見經傳的小公(gong)司，慢慢的適應了(le)市場的需求，得到了(le)越來越多(duo)(duo)(duo)的客(ke)戶(hu)認可。公(gong)司業(ye)(ye)務(wu)(wu)不(bu)(bu)斷豐富，主要(yao)經營(ying)的業(ye)(ye)務(wu)(wu)包括：拉(la)曼(man)光(guang)(guang)譜儀(yi)，電(dian)(dian)動位(wei)移(yi)臺(tai)，激光(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)，光(guang)(guang)電(dian)(dian)探測(ce)器(qi)(qi)(qi)等多(duo)(duo)(duo)系列產(chan)(chan)品和(he)(he)(he)服(fu)(fu)務(wu)(wu)。可以根據客(ke)戶(hu)需求開發出多(duo)(duo)(duo)種(zhong)不(bu)(bu)同功(gong)能(neng)的產(chan)(chan)品，深(shen)受客(ke)戶(hu)的好評。愛特(te)(te)蒙特(te)(te)嚴格按照(zhao)行(xing)業(ye)(ye)標準進(jin)行(xing)生(sheng)產(chan)(chan)研發，產(chan)(chan)品在(zai)按照(zhao)行(xing)業(ye)(ye)標準測(ce)試(shi)完成后，通過(guo)質檢部門檢測(ce)后推(tui)出。我們通過(guo)全新的管(guan)理模式和(he)(he)(he)周到的服(fu)(fu)務(wu)(wu)，用心服(fu)(fu)務(wu)(wu)于(yu)(yu)客(ke)戶(hu)。愛特(te)(te)蒙特(te)(te)秉承著(zhu)誠信服(fu)(fu)務(wu)(wu)、產(chan)(chan)品求新的經營(ying)原(yuan)則，對于(yu)(yu)員工素質有嚴格的把控和(he)(he)(he)要(yao)求，為拉(la)曼(man)光(guang)(guang)譜儀(yi)，電(dian)(dian)動位(wei)移(yi)臺(tai)，激光(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)，光(guang)(guang)電(dian)(dian)探測(ce)器(qi)(qi)(qi)行(xing)業(ye)(ye)用戶(hu)提供(gong)完善的售(shou)前(qian)和(he)(he)(he)售(shou)后服(fu)(fu)務(wu)(wu)。

本(ben)文來自廣西(xi)桂林百利種苗有限公司：//a777a.cn/Article/413d9599491.html